導(dǎo)致納米激光粒度儀鏡頭和測試窗口玻璃污染：光學(xué)儀器的鏡頭污染是常見故障。激光粒度儀作為粉體檢測設(shè)備，常常會面對多塵環(huán)境，測試窗口鏡片則是會直接接觸粉體樣品的光學(xué)器件。聚焦透鏡或者準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)鏡片受到使用環(huán)境中的浮塵污染或者發(fā)生霉菌污染，會使純凈的測量光束產(chǎn)生雜散光。這些雜散光會混入樣品的散射光中干擾測試；測量窗口鏡片上的污染物則會直接產(chǎn)生較強的散射光。因此，光學(xué)鏡片污染是激光粒度儀測試結(jié)果漂移的首要元兇。應(yīng)對辦法主要是盡量讓儀器處于干燥無塵的工作環(huán)境。經(jīng)常按照操作規(guī)程清洗鏡片，保證光學(xué)鏡片的清潔。
激光光路偏移：激光器是會發(fā)熱的器件，工作周期內(nèi)，它們會周而復(fù)始的發(fā)熱-降溫-發(fā)熱。任何物體都會有熱脹冷縮現(xiàn)象，幾何尺寸會隨溫度變化而變化。而激光粒度儀光路裝配精度要求非常高，隨著儀器使用周期延長，光路幾乎不可避免的會出現(xiàn)偏移現(xiàn)象。光路偏移，會導(dǎo)致測量光束光能衰減、探測器排布角度發(fā)生漂移，從而導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)漂移。應(yīng)對這個問題主要靠儀器制造商從儀器設(shè)計上盡量減少出現(xiàn)光路偏移的可能性，同時定期校準(zhǔn)光路也是非常重要的辦法。
進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動這個環(huán)節(jié)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)漂移比較隱蔽，所以容易被忽視。樣品循環(huán)系統(tǒng)使用的介質(zhì)特性、介質(zhì)流速（干法儀器而言則是氣壓和氣流量）、超聲分散設(shè)備的工況、水泵轉(zhuǎn)速這幾個要點會明顯影響測試數(shù)據(jù)，需要細(xì)心關(guān)注。
光電探測器及其放大電路參數(shù)漂移：這類問題應(yīng)該屬于儀器制造質(zhì)量水平問題，，一般來說任何電子電路和光電探測器都有工況漂移問題，差別只是漂移量不同。這類問題通常儀器用戶自己是無法解決的，需要儀器制造商對儀器進(jìn)行專門的電路工況系數(shù)校準(zhǔn)。某些高水平的儀器，能夠自行校準(zhǔn)自身電路工況漂移。
測量參數(shù)、測量條件變動：分析模型、樣品測量參數(shù)、測試環(huán)境（例如濕度、測試介質(zhì)溫度等）都有可能影響測試數(shù)據(jù)。我們首先要保證測試的分析模型、樣品測量參數(shù)（特別是樣品折射率）選擇正確。測試環(huán)境的影響，視不同樣品和儀器工作環(huán)境不同，影響也差別很大，很難簡單舉例說明。需要具體情況具體分析。
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